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Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science.  Bd. I - IV - David B. Williams, C. Barry Carter
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David B. Williams, C. Barry Carter:

Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV - Taschenbuch

ISBN: 030645324X

[SR: 477277], Taschenbuch, [EAN: 9780306453243], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 403432, Schule & Lernen, 405500, Allgemeinbildung, 14025941, Berufs- & Fachschulbücher… Mehr…

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Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV - Taschenbuch

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[SR: 477277], Taschenbuch, [EAN: 9780306453243], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 403432, Schule & Lernen, 405500, Allgemeinbildung, 14025941, Berufs- & Fachschulbücher… Mehr…

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Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) - Taschenbuch

ISBN: 9780306453243

by Williams, David B.; Carter, C.... | PB | Acceptable, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) by Williams, David B.; Carter, C. Barry Readable cop… Mehr…

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Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) - Taschenbuch

2004, ISBN: 030645324X

[EAN: 9780306453243], Used, very good, [PU: Springer], Books

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Carter C. Barry Williams David B.:
Transmission Electron Microscopy - Taschenbuch

2004, ISBN: 030645324X

[EAN: 9780306453243], [PU: Springer], pp. 703, Books

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Details zum Buch
Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science.  Bd. I - IV

This groundbreaking text provides the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials characterization technique and is supported by over 600 illustrations and diagrams.

Detailangaben zum Buch - Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV


EAN (ISBN-13): 9780306453243
ISBN (ISBN-10): 030645324X
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 1996
Herausgeber: Springer
703 Seiten
Gewicht: 1,964 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2007-04-24T01:18:06+02:00 (Vienna)
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ISBN/EAN: 9780306453243

ISBN - alternative Schreibweisen:
0-306-45324-X, 978-0-306-45324-3
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: david carter, carter william, carter barry, williams and carter
Titel des Buches: transmission electron microscopy textbook for materials science


Daten vom Verlag:

Autor/in: David B. Williams; C. Barry Carter
Titel: Transmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science
Verlag: Springer; Springer US
729 Seiten
Erscheinungsjahr: 2004-08-31
New York; NY; US
Gedruckt / Hergestellt in Vereinigte Staaten.
Gewicht: 1,840 kg
Sprache: Englisch
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87,99 € (AT)
106,60 CHF (CH)
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BC; Book; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Mechanik, Akustik; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; electron microscope; electron microscopy; diffraction; crystal; microscopy; transmission electron microscopy; Helium-Atom-Streuung; materials characterization; B; Physics and Astronomy; Spectroscopy and Microscopy; Surface and Interface Science, Thin Films; Solid State Physics; Characterization and Evaluation of Materials; Biological Microscopy; Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Werkstoffprüfung; Biologie, Biowissenschaften; Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken; BB; BC

Basics: 1. The Transmission Electron Microscope. 2. Scattering and Diffraction. 3. Elastic Scattering. 4. Inelastic Scattering and Beam Damage. 5. Electron Sources. 6. Lenses, Apertures, and Resolution 7. How to `See' Electrons. 8. Pumps and Holders. 9. The Instrument 10. Specimen Preparation. Diffraction: 11. Diffraction Patterns. 12. Thinking in Reciprocal Space 13. Diffracted Beams. 14. Bloch Waves. 15. Dispersion Surfaces. 16. Diffraction from Crystals. 17. Diffraction from Small Volumes. 18. Indexing Diffraction Patterns. 19. Kikuchi Diffraction. 20. Obtaining CBED Patterns. 21. Using Covergent-Beam Technologies. Imaging: 22. Imaging in the TEM. 23. Thickness and Bending Effects. 24. Planar Defects. 25. Strain Fields. 26. WeakBeam Dark-Field Microscopy. 27. Phase-Contrast Images. 28. High-Resolution TEM. 29. Image Simulation. 30. Quantifying and Processing HRTEM Images. 31. Other Imaging Techniques. Spectrometry: 32. Xray Spectrometry. 33. The XEDS-TEM Interface. 34. Qualitative Xray Analysis. 35. Quantitative Xray Microanalysis. 36. Spatial Resolution and Minimum Detectability. 37. Electron EnergyLoss Spectrometers. 38. The EnergyLoss Spectrum. 39. Microanalysis with Ionization-Loss Electrons. 40. Everything Else in the Spectrum. Index.

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