ISBN: 1402032072
Autor:Larsson, Erik. Indem Sie ein gut erhaltenes Buch aus zweiter Hand kaufen, unterstützen Sie eine fortlaufende Wiederverwendung sowie die Verbreitung der Liebe zum Buch durch erneutes… Mehr…
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Einführung in fortgeschrittenes System-on-Chip-Testdesign und optimal... - 9781402032073 - gebunden oder broschiert
ISBN: 9781402032073
(ISBN-13: 9781402032073, 978-1402032073. SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The book is divided int… Mehr…
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Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29) - gebunden oder broschiert
2005, ISBN: 9781402032073
Springer, Hardcover, Auflage: 2005, 408 Seiten, Publiziert: 2005-11-07T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 1.66 kg, Civil & Environmental, Engineering & Transportation, Subjects, Books, Desig… Mehr…
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2005, ISBN: 1402032072
gebundene Ausgabe 388 Seiten; Gebundene Ausgabe Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rück… Mehr…
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2005, ISBN: 1402032072
2005 Gebundene Ausgabe Konstruktion, Entwurf, Elektrotechnik, Elektronik, Schaltkreise und Komponenten (Bauteile), boundaryscan; SOCtestdesign; Transistor; automation; consumption; inte… Mehr…
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Einführung in fortgeschrittenes System-on-Chip-Testdesign und optimal... - 9781402032073 - gebunden oder broschiertISBN: 9781402032073
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Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29) - gebunden oder broschiert
2005
ISBN: 9781402032073
Springer, Hardcover, Auflage: 2005, 408 Seiten, Publiziert: 2005-11-07T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 1.66 kg, Civil & Environmental, Engineering & Transportation, Subjects, Books, Desig… Mehr…
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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches
Autor: | |
Titel: | |
ISBN-Nummer: |
Detailangaben zum Buch - Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29)
EAN (ISBN-13): 9781402032073
ISBN (ISBN-10): 1402032072
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 2005
Herausgeber: Springer
388 Seiten
Gewicht: 1,093 kg
Sprache: eng/Englisch
Buch in der Datenbank seit 2007-07-11T13:25:27+02:00 (Vienna)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-10-06T23:37:03+02:00 (Vienna)
ISBN/EAN: 1402032072
ISBN - alternative Schreibweisen:
1-4020-3207-2, 978-1-4020-3207-3
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: larsson
Titel des Buches: system modelling and optimization, design systems chip, design sweden, introduction advanced system chip test design and optimization, opti, little design possible, looking design, best test design
Daten vom Verlag:
Autor/in: Erik Larsson
Titel: Frontiers in Electronic Testing; Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Verlag: Springer; Springer US
388 Seiten
Erscheinungsjahr: 2005-11-07
New York; NY; US
Sprache: Englisch
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
Available
XX, 388 p.
BB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Boundary Scan; SOC test design; System-on-Chip; Transistor; automation; consumption; integrated circuit; Electronic Circuits and Systems; Electrical and Electronic Engineering; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Engineering Design; Optical Materials; Elektrotechnik; Elektronik; Konstruktion, Entwurf; Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien; BC
Testing Concepts.- Design Flow.- Design for Test.- Boundary Scan.- SOC Design for Testability.- System Modeling.- Test Conflicts.- Test Power Dissipation.- Test Access Mechanism.- Test Scheduling.- SOC Test Applications.- A Reconfigurable Power-Conscious Core Wrapper and its Application to System-on-Chip Test Scheduling.- An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions.- Efficient Test Solutions for Core-Based Designs.- Core Selection in the SOC Test Design-Flow.- Defect-Aware Test Scheduling.- An Integrated Technique for Test Vector Selection and Test Scheduling under ATE Memory Depth Constraint.System perspective to SOC test design. Overview of test problems and their modeling Test scheduling overview, extensive reference list Applicable for Master students and PhD-students working in the test field. Could also be good for researchers and professors who would like to get into the area of SOC testing, also for persons in the field who want some references Includes supplementary material: sn.pub/extras
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