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Restricted randomization - Lambert M. Surhone
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Lambert M. Surhone:

Restricted randomization - Taschenbuch

2010, ISBN: 6130339712

[EAN: 9786130339715], Neubuch, [PU: Betascript Publishers Jan 2010], Neuware - High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Many processes have more than one source of variation in them. I… Mehr…

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Restricted randomization - Taschenbuch

2010

ISBN: 9786130339715

Erscheinungsdatum: 01/2010, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Restricted randomization, Titelzusatz: Statistical Dispersion, Variance Reduction, Batch Producti… Mehr…

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Restricted randomization Statistical Dispersion, Variance Reduction, Batch Production, Wafer, Dependent and Independent Variables, Sampling, Standard Deviation, Robustification, Random Effects Model - Surhone, Lambert M. (Herausgeber); Timpledon, Miriam T. (Herausgeber); Marseken, Susan F. (Herausgeber)
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Surhone, Lambert M. (Herausgeber); Timpledon, Miriam T. (Herausgeber); Marseken, Susan F. (Herausgeber):
Restricted randomization Statistical Dispersion, Variance Reduction, Batch Production, Wafer, Dependent and Independent Variables, Sampling, Standard Deviation, Robustification, Random Effects Model - neues Buch

2010, ISBN: 6130339712

Kartoniert / Broschiert, mit Schutzumschlag neu, [PU:Betascript Publishers]

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2010, ISBN: 6130339712

Kartoniert / Broschiert, met couverture neu, [PU:Betascript Publishers]

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Restricted randomization
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

6130339712


High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Many processes have more than one source of variation in them. In order to reduce variation in processes, these multiple sources must be understood, and that often leads to the concept of nested or hierarchical data structures. For example, in the semiconductor industry, a batch process may operate on several wafers at a time (wafers are said to be nested within batch). Understanding the input variables that control variation among those wafers, as well as understanding the variation across each wafer in a run, is an important part of the strategy for minimizing the total variation in the system.

Detailangaben zum Buch - Restricted randomization


EAN (ISBN-13): 9786130339715
ISBN (ISBN-10): 6130339712
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Betascript Publishers Jan 2010

Buch in der Datenbank seit 2009-04-23T02:03:25+02:00 (Vienna)
Detailseite zuletzt geändert am 2020-08-10T22:15:34+02:00 (Vienna)
ISBN/EAN: 6130339712

ISBN - alternative Schreibweisen:
613-0-33971-2, 978-613-0-33971-5
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Titel des Buches: standard model

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