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Modeling and Multiresolution Characterization of Micro/nano Surface - Romagnoli, José A.Mukherjee, Rajib
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Romagnoli, José A.Mukherjee, Rajib:

Modeling and Multiresolution Characterization of Micro/nano Surface - Taschenbuch

2010, ISBN: 9783639266122

[ED: Softcover], [PU: VDM Verlag Dr. Müller], Various statistical features can be used to characterize the surface in quantitative way. Such an analysis can be done by the multi-resolutio… Mehr…

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Modeling and Multiresolution Characterization of Micro/nano Surface
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Modeling and Multiresolution Characterization of Micro/nano Surface - neues Buch

ISBN: 9783639266122

Various statistical features can be used to characterize the surface in quantitative way. Such an analysis can be done by the multi-resolution capabilities of wavelet transforms (WT) of t… Mehr…

Nr. V1MAA793UQ8. Versandkosten:, Lieferzeit: 5 Tage, DE. (EUR 0.00)
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Modeling and Multiresolution Characterization of Micro/nano Surface - Taschenbuch

ISBN: 9783639266122

Paperback, [PU: VDM Verlag], Various statistical features can be used to characterize the surface in quantitative way. Such an analysis can be done by the multi-resolution capabilities of… Mehr…

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Mukherjee, Rajib Romagnoli, José A.:
Modeling and Multiresolution Characterization of Micro/nano Surface - gebunden oder broschiert

2010, ISBN: 9783639266122

[ED: Kartoniert / Broschiert], [PU: VDM Verlag Dr. Mueller], Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Various statistical features … Mehr…

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Mukherjee, Rajib|Romagnoli, José A.:
Modeling and Multiresolution Characterization of Micro/nano Surface - Taschenbuch

2010, ISBN: 3639266129

[EAN: 9783639266122], Neubuch, [PU: VDM Verlag Dr. Müller], TECHNIK ELEKTRONIK ELEKTROTECHNIK NACHRICHTENTECHNIK MONTE CARLO, Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach… Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Modeling and Multiresolution Characterization of Micro/nano Surface: for Polymer Thin Films and Interfaces

Various statistical features can be used to characterize the surface in quantitative way. Such an analysis can be done by the multi-resolution capabilities of wavelet transforms (WT) of the surface microscopic image. A multi-scale molecular model can help to investigate the physical and chemical mechanism in manufacturing process. Multiresolution characterization can be performed on the model structure to compare with image analysis. In this book, we have used a soft polymeric surface and applied multiresolution characterization for surface feature extraction and multiscale modeling for optimizing system variables to get desired surface characteristics. In microfabrication, the efficiency of the product reduced by line-edge roughness (LER). Off-line LER characterization is usually based on the top-down SEM image. This book shows wavelet based segmentation method for edge searching region as well as wavelet based characterization. For mesoscale modeling, the Flory-Huggins interaction parameters of the clusters of atoms or molecules are used. We have identified the phase separation by spinodal decomposition resulting in the formation of LER on polymer surface.

Detailangaben zum Buch - Modeling and Multiresolution Characterization of Micro/nano Surface: for Polymer Thin Films and Interfaces


EAN (ISBN-13): 9783639266122
ISBN (ISBN-10): 3639266129
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: VDM Verlag Dr. Müller

Buch in der Datenbank seit 2009-01-12T11:34:31+01:00 (Vienna)
Detailseite zuletzt geändert am 2022-01-29T11:08:09+01:00 (Vienna)
ISBN/EAN: 9783639266122

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-639-26612-9, 978-3-639-26612-2
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: mukherjee, romagnoli
Titel des Buches: micro, surface, nano


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