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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons Mathias Schubert Author
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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons Mathias Schubert Author - neues Buch

ISBN: 9783642062285

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonon… Mehr…

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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures - neues Buch

ISBN: 9783642062285

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonon… Mehr…

Nr. 978-3-642-06228-5. Versandkosten:Worldwide free shipping, , plus shipping costs. (EUR 0.00)
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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons (Springer Tracts in Modern Physics) (Springer Tracts in Modern Physics, 209, Band 209) - Taschenbuch

2010

ISBN: 9783642062285

Springer, Taschenbuch, Auflage: 2004, 208 Seiten, Publiziert: 2010-11-23T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: 77 black & white illustrations, 0.3 kg, Maschinenbau, Ingenieurwis… Mehr…

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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons: 209 (Springer Tracts in Modern Physics, 209) - Taschenbuch

2010, ISBN: 9783642062285

Springer, Paperback, Auflage: 2004, 207 Seiten, Publiziert: 2010-11-23T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, Hersteller-Nr.: 77 black & white illustrations, 0.3 kg, Applied Optics, Electronics … Mehr…

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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures : Phonons, Plasmons, and Polaritons - Taschenbuch

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Details zum Buch
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons Mathias Schubert Author
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783642062285


The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects. A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed.

Detailangaben zum Buch - Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons Mathias Schubert Author


EAN (ISBN-13): 9783642062285
ISBN (ISBN-10): 3642062288
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer Berlin Heidelberg Core >1
208 Seiten
Gewicht: 0,322 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2011-06-10T14:16:02+02:00 (Vienna)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-02-13T12:01:12+01:00 (Vienna)
ISBN/EAN: 9783642062285

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-06228-8, 978-3-642-06228-5
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: schubert, range
Titel des Buches: phonon, layer layer, springer tracts modern physics, schubert

Daten vom Verlag:

Autor/in: Mathias Schubert
Titel: Springer Tracts in Modern Physics; Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures - Phonons, Plasmons, and Polaritons
Verlag: Springer; Springer Berlin
196 Seiten
Erscheinungsjahr: 2010-11-23
Berlin; Heidelberg; DE
Gedruckt / Hergestellt in Niederlande.
Sprache: Englisch
246,09 € (DE)
252,99 € (AT)
271,50 CHF (CH)
POD
XI, 196 p.

BC; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Elektrizität, Magnetismus, Optik; Elektrizität, Magnetismus und Elektromagnetismus; Verstehen; Anisotropy; Blende; Free-charge carriers; HTS; Infrared ellipsometry; Polaritons; Semiconductor; ellipsometry; spectroscopy; Classical Electrodynamics; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Optical Materials; Laser; Technology and Engineering; Materialwissenschaft; Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien; Laserphysik; Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein; BB; EA

Introduction.- Ellipsometry.- Infrared Model Dielectric Functions.- Polaritons in Semiconductor Layer Structures.- Anisotropic Substrates.- Zinsblende-Structure Materials (III-V).- Wurtzite-Structure Materials (Group-III Nitrides, ZnO).- Magneto-optic Ellipsometry.
Describes a powerful new method for investigating semiconductor layer structures Author is a leading expert in the field Includes supplementary material: sn.pub/extras

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