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Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices - E. Simoen
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E. Simoen:

Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices - Taschenbuch

2010, ISBN: 3642077781

[EAN: 9783642077784], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin Heidelberg], MICROELECTRONICS; RADIATIONDAMAGE; SEMICONDUCTORDEVICESANDCIRCUITS; SPACEANDNUCLEARELECTRONICS; ULSITECHNOLOGY;… Mehr…

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Claeys, C.;Simoen, E.:

Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices - Taschenbuch

2010, ISBN: 9783642077784

[ED: Softcover], [PU: Springer / Springer Berlin Heidelberg / Springer, Berlin], This wide-ranging book summarizes the current knowledge of radiation defects in semiconductors, outlining … Mehr…

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C. Claeys E. Simoen:
Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices - Erstausgabe

2010

ISBN: 9783642077784

Taschenbuch

[ED: Kartoniert / Broschiert], [PU: Springer Berlin Heidelberg], Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book summarizes the … Mehr…

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Simoen, E.; Claeys, C.:
Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices - Taschenbuch

2010, ISBN: 3642077781

Gebundene Ausgabe

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2002 Kartoniert / Broschiert Elektrizität, Magnetismus und Elektromagnetismus, Umwelt, Materialwissenschaft, Werkstoffprüfung, microelectronics; r… Mehr…

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C. Claeys; E. Simoen:
Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices - Taschenbuch

2010, ISBN: 9783642077784

Buch, Softcover, Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2002, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2010

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Details zum Buch
Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices

This wide-ranging book summarizes the current knowledge of radiation defects in semiconductors, outlining the shortcomings of present experimental and modelling techniques and giving an outlook on future developments. It also provides information on the application of sensors in nuclear power plants.

Detailangaben zum Buch - Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices


EAN (ISBN-13): 9783642077784
ISBN (ISBN-10): 3642077781
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer Berlin
428 Seiten
Gewicht: 0,643 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2010-09-24T21:40:28+02:00 (Vienna)
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ISBN/EAN: 9783642077784

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-07778-1, 978-3-642-07778-4
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: claeys, cor, eddy, simoen
Titel des Buches: radiation effects advanced, semiconductor devices, the effects radiation materials


Daten vom Verlag:

Autor/in: C. Claeys; E. Simoen
Titel: Springer Series in Materials Science; Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices
Verlag: Springer; Springer Berlin
404 Seiten
Erscheinungsjahr: 2010-12-01
Berlin; Heidelberg; DE
Gedruckt / Hergestellt in Niederlande.
Sprache: Englisch
213,99 € (DE)
219,99 € (AT)
236,00 CHF (CH)
POD
XXII, 404 p.

BC; Hardcover, Softcover / Technik/Maschinenbau, Fertigungstechnik; Werkstoffprüfung; Verstehen; Microelectronics; Radiation damage; Semiconductor; Semiconductor devices and circuits; Space and nuclear electronics; ULSI Technology; environment; modeling; Crystallography and Scattering Methods; Energy Policy, Economics and Management; Classical Electrodynamics; Characterization and Analytical Technique; Optical Materials; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Umwelt; Elektrizität, Magnetismus und Elektromagnetismus; Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien; Materialwissenschaft; BB

In the modern semiconductor industry, there is a growing need to understand and combat potential radiation damage problems. Space applications are an obvious case, but, beyond that, today's device and circuit fabrication rely on increasing numbers of processing steps that involve an aggressive environment where inadvertant radiation damage can occur. This book is both aimed at post-graduate researchers seeking an overview of the field, and will also be immensely useful for nuclear and space engineers and even process engineers. A background knowledge of semiconductor and device physics is assumed, but the basic concepts are all briefly summarized. Finally the book outlines the shortcomings of present experimental and modeling techniques and gives an outlook on future developments.
This book summarizes the current knowledge of radiation defects in semiconductors It will be a useful reference work for scientists involved in semiconductor processing.- This book is important for space applications of semiconductors and solar cells.- It provides information on the application of sensors in nuclear power plants.

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