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Applied Scanning Probe Methods VIII
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Applied Scanning Probe Methods VIII - neues Buch

ISBN: 9783642093401

The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I–VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural ste… Mehr…

Nr. 978-3-642-09340-1. Versandkosten:Worldwide free shipping, , DE. (EUR 0.00)
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Applied Scanning Probe Methods VIII - Herausgegeben:Fuchs, Harald; Bhushan, Bharat; Tomitori, Masahiko
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Herausgegeben:Fuchs, Harald; Bhushan, Bharat; Tomitori, Masahiko:
Applied Scanning Probe Methods VIII - Taschenbuch

2010

ISBN: 9783642093401

[ED: Softcover], [PU: Springer / Springer Berlin Heidelberg / Springer, Berlin], The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied sc… Mehr…

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Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques - Bhushan, Bharat (Herausgeber); Fuchs, Harald (Herausgeber); Tomitori, Masahiko (Herausgeber)
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Bhushan, Bharat (Herausgeber); Fuchs, Harald (Herausgeber); Tomitori, Masahiko (Herausgeber):
Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques - Taschenbuch

2010, ISBN: 364209340X

Gebundene Ausgabe

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 Kartoniert / Broschiert Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken, Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie, Polymerc… Mehr…

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Applied Scanning Probe Methods VIII - Bhushan, Bharat Fuchs, Harald Tomitori, Masahiko
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Bhushan, Bharat Fuchs, Harald Tomitori, Masahiko:
Applied Scanning Probe Methods VIII - Erstausgabe

2010, ISBN: 9783642093401

Taschenbuch

[ED: Kartoniert / Broschiert], [PU: Springer Berlin Heidelberg], Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. First book summarizing th… Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Applied Scanning Probe Methods VIII

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. This is the first book to summarize the state-of-the-art of this technique. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications.

Detailangaben zum Buch - Applied Scanning Probe Methods VIII


EAN (ISBN-13): 9783642093401
ISBN (ISBN-10): 364209340X
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer Berlin
528 Seiten
Gewicht: 0,789 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2011-01-20T18:06:07+01:00 (Vienna)
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ISBN/EAN: 9783642093401

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-09340-X, 978-3-642-09340-1
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: bhushan, harald fuchs, tomi, masahiko, tom hara
Titel des Buches: scanning probe microscopy nanoscience, applied methods, probe aufnahmen


Daten vom Verlag:

Autor/in: Bharat Bhushan; Harald Fuchs; Masahiko Tomitori
Titel: NanoScience and Technology; Applied Scanning Probe Methods VIII - Scanning Probe Microscopy Techniques
Verlag: Springer; Springer Berlin
465 Seiten
Erscheinungsjahr: 2010-11-16
Berlin; Heidelberg; DE
Gedruckt / Hergestellt in Niederlande.
Sprache: Englisch
117,69 € (DE)
120,99 € (AT)
130,00 CHF (CH)
POD
LIX, 465 p.

BC; Hardcover, Softcover / Technik/Allgemeines, Lexika; Elektronik; Verstehen; AFM; Nanotube; PES; carbon nanotubes; ceramics; liquid; microscopy; polymer; Microsystems and MEMS; Spectroscopy; Surface and Interface and Thin Film; Nanotechnology; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Polymers; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Nanotechnologie; Materialwissenschaft; Technische Anwendung von Polymeren und Verbundwerkstoffen; BB; EA

Background-Free Apertureless Near-Field Optical Imaging.- Critical Dimension Atomic Force Microscopy for Sub-50-nm Microelectronics Technology Nodes.- Near Field Probes: From Optical Fibers to Optical Nanoantennas.- Carbon Nanotubes as SPM Tips: Mechanical Properties of Nanotube Tips and Imaging.- Scanning Probes for the Life Sciences.- Self-Sensing Cantilever Sensor for Bioscience.- AFM Sensors in Scanning Electron and Ion Microscopes: Tools for Nanomechanics, Nanoanalytics, and Nanofabrication.- Cantilever Spring-Constant Calibration in Atomic Force Microscopy.- Frequency Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids.- Kelvin Probe Force Microscopy: Recent Advances and Applications.- Application of Scanning Capacitance Microscopy to Analysis at the Nanoscale.- Probing Electrical Transport Properties at the Nanoscale by Current-Sensing Atomic Force Microscopy.
First book summarizing the state-of-the-art of this technique Real industrial applications included Includes supplementary material: sn.pub/extras

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