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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Edwin R. Hancock; Richard C Wilson; Terry Windeatt; Ilkay Ulusoy; Francisco Escolano
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Edwin R. Hancock; Richard C Wilson; Terry Windeatt; Ilkay Ulusoy; Francisco Escolano:

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Erstausgabe

2010, ISBN: 9783642149795

Taschenbuch

Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010. Proceedings, Buch, Softcover, This volume in the Springer Lecture Notes in Computer Scien… Mehr…

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Hancock, Edwin R.|Wilson, Richard C|Windeatt, Terry|Ulusoy, Ilkay|Escolano, Francisco:

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Taschenbuch

2010, ISBN: 3642149790

[EAN: 9783642149795], Libro nuevo, [SC: 17.5], [PU: Springer Berlin Heidelberg], ALGORITHMUS DATA MINING (EDV) DATENVERARBEITUNG INFORMATIONSMANAGEMENT INFORMATIONSSYSTEM INTELLIGENZ KÜNS… Mehr…

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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010. Proceedings - Hancock, Edwin R., Richard C Wilson und Terry Windeatt
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Hancock, Edwin R., Richard C Wilson und Terry Windeatt:
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010. Proceedings - gebrauchtes Buch

2010

ISBN: 9783642149795

[PU: Springer Berlin], Neubindung, Buchecken leicht angestoßen, Auflage 2010 8541454/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches Angebot, 2010, Banküberweisung, Kreditkarte, Pay… Mehr…

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Edwin R. Hancock (Editor), Richard C Wilson (Editor), Terry Windeatt (Editor), Ilkay Ulusoy (Editor), Francisco Escolano (Editor):
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, ... Vision, Pattern Recognition, and Graphics) - Taschenbuch

2010, ISBN: 9783642149795

Springer, 2010-09-30. 2010. Paperback. Used:Good., Springer, 2010-09-30, 0

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Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010. Proceedings, Buch, Softcover, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2010

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783642149795


This volume constitutes the refereed proceedings of the Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2010, held in Cesme, Izmir, Turkey, in August 2010.

Detailangaben zum Buch - Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition


EAN (ISBN-13): 9783642149795
ISBN (ISBN-10): 3642149790
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer Berlin
758 Seiten
Gewicht: 1,092 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2009-04-10T09:52:31+02:00 (Vienna)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-01-20T12:38:51+01:00 (Vienna)
ISBN/EAN: 9783642149795

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-14979-0, 978-3-642-14979-5
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: hancock christopher, wilson rich, windeatt, terry richard, francisco escolano
Titel des Buches: graphic, spr proceedings, international statistical, structural pattern recognition, august, international graphics, izmir

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