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Applied Scanning Probe Methods III - Harald Fuchs
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Harald Fuchs:

Applied Scanning Probe Methods III - neues Buch

2022, ISBN: 9783540269090

[ED: Buch], [PU: Springer Berlin Heidelberg], Neuware - The Nobel Prize of 1986 on Sc- ning Tunneling Microscopy sig- led a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new i- tru… Mehr…

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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization Bharat Bhushan Editor
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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization Bharat Bhushan Editor - neues Buch

ISBN: 9783540269090

The Nobel Prize of 1986 on Sc- ning Tunneling Microscopy sig- led a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new i- trument for imaging with a pre- sion sufficient to delineat… Mehr…

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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - neues Buch

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The Nobel Prize of 1986 on Sc- ning Tunneling Microscopy sig- led a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new i- trument for imaging with a pre- sion suf?cient to delineate… Mehr…

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Applied Scanning Probe Methods III
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Applied Scanning Probe Methods III - neues Buch

ISBN: 9783540269090

The Nobel Prize of 1986 on Sc- ning Tunneling Microscopy sig- led a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new i- trument for imaging with a pre- sion suf?cient to delineate… Mehr…

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Applied Scanning Probe Methods III Characterization - Fuchs, Harald (Herausgeber); Bhushan, Bharat (Herausgeber)
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Fuchs, Harald (Herausgeber); Bhushan, Bharat (Herausgeber):
Applied Scanning Probe Methods III Characterization - gebunden oder broschiert

2006, ISBN: 3540269096

2006 Gebundene Ausgabe Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie, Nanotechnologie, Technologie / Nanotechnologie, Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie, Materialwiss… Mehr…

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Details zum Buch
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization Bharat Bhushan Editor

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques, and build upon the first volume published in early 2004. The field is progressing so fast that there is a need for a second set of volumes to capture the latest developments. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. Volume II introduces scanning probe microscopy, including sensor technology, Volume III covers the whole range of characterization possibilities using SPM and Volume IV offers chapters on uses in various industrial applications. The international perspective offered in these three volumes - which belong together - contributes further to the evolution of SPM techniques. TOC:D Nikova, Tobias Lange, Hans Oberleithner, and Hermann Schillers: Atomic force microscopy in nanomedicine.- Ille C. Gebeshuber, Manfred Drack, Fritz Aumayr, Herbert Störi, Hannspeter Winter, and Friedrich Franek: Scanning Probe Microscopy: From Living Cells to the Sub-Atomic Range.- Zachary Burton and Bharat Bhushan: Surface Characterization, Adhesion, and Friction Properties of Hydrophobic Leaf Surfaces and Nanopatterned Polymers for Surperhydrophobic Surfaces.- Scott Sills and Rene M. Overney: Probing Macromolecular Dynamics and the Influence of Finite Size Effects.- Laurent Nony, Enrico Gnecco, and Ernst Meyer: Investigation of Organic Supramolecules by Scanning Probe Microscopy in Ultra-High Vacuum.- Luca Gavioli and Massimo Sancrotti: Scanning Tunneling Spectroscopy on Organic and Inorganic Low-Dimensional Systems.- Oleg Tikhomirov, Massimiliano Labardi, Maria Allegrini: Scanning Probe Microscopy Applied to Ferroelectric Materials.- Renato Buzio, Corrado Boragno, Francesco Buatier, and Ugo Valbusa: Morphological and Tribological Characterization of Rough Surfaces by Atomic Force Microscopy.- Nikolai K. Myshkin, Mark I. Petrokovets, and Alexander V. Kovalev: AFM Applications for Contact and Wear Simulation.- AFM Applications for Analysis of Fullerene-like Nanoparticles: Lev Rapoport and Armen Verdyan.- James K. Knudsen: Scanning Probe Methods in the Magnetic Tape Industry.

Detailangaben zum Buch - Applied Scanning Probe Methods III: Characterization Bharat Bhushan Editor


EAN (ISBN-13): 9783540269090
ISBN (ISBN-10): 3540269096
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 2006
Herausgeber: Springer Berlin Heidelberg Core >2 >T

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ISBN/EAN: 9783540269090

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-26909-6, 978-3-540-26909-0
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: probe, bhushan, harald fuchs, barbara paul
Titel des Buches: iii, applied scanning probe methods, probe aufnahmen, harald fuchs


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