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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Dit-Yan Yeung
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Dit-Yan Yeung:

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Taschenbuch

2003, ISBN: 9783540372363

[ED: Taschenbuch], [PU: Springer-Verlag GmbH], Neuware - This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th … Mehr…

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2003, ISBN: 9783540372363

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Structural Syntactic and Statistical Pattern Recognition - Taschenbuch

2006

ISBN: 3540372369

Structural Syntactic and Statistical Pattern Recognition ab 154.99 € als Taschenbuch: Joint IAPR International Workshops SSPR 2006 and SPR 2006 Hong Kong China August 17-19 2006 Proceedin… Mehr…

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Structural Syntactic and Statistical Pattern Recognition - Taschenbuch

2006, ISBN: 9783540372363

Structural Syntactic and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshops SSPR 2006 and SPR 2006 Hong Kong China August 17-19 2006 Proceedings. Auflage 2006: ab 154.99… Mehr…

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Dit-Yan Yeung; James T. Kwok; Ana Fred; Fabio Roli; Dick de Ridder:
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Taschenbuch

2006, ISBN: 9783540372363

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings, Buch, Softcover, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2006

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783540372363


This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006, held in Hong Kong, August 2006 alongside the Conference on Pattern Recognition, ICPR 2006. 38 revised full papers and 61 revised poster papers are included, together with 4 invited papers covering image analysis, character recognition, bayesian networks, graph-based methods and more.

Detailangaben zum Buch - Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition


EAN (ISBN-13): 9783540372363
ISBN (ISBN-10): 3540372369
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2006
Herausgeber: Springer Berlin
939 Seiten
Gewicht: 1,083 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2007-06-04T05:21:07+02:00 (Vienna)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-02-19T13:15:51+01:00 (Vienna)
ISBN/EAN: 9783540372363

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-37236-9, 978-3-540-37236-3
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: ridder, yeung, yan, fabio, james, yän, dick, fred
Titel des Buches: china pattern, szene intern, spr proceedings, over hong kong, international statistical, structural pattern recognition, off china, 2006, china and beyond, vision china, august, joint, china work, yan, international graphics

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