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Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS - Olaf Baake
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Olaf Baake:

Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS - neues Buch

2015, ISBN: 9783838115337

Kartoniert, 128 Seiten, 220mm x 150mm x 9mm, Sprache(n): ger Bereits 1989 wurden besonders außergewöhnliche Eigenschaften für ein ß-Kohlenstoffnitrid vorausgesagt, was einen weltweiten Bo… Mehr…

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Olaf Baake:

Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten : Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS - Taschenbuch

2010, ISBN: 3838115333

[EAN: 9783838115337], Neubuch, [PU: Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften AG Co. KG], nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Bereits 1989 wurden besonder… Mehr…

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Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten | Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS | Olaf Baake | Taschenbuch | Paperback | 128 S. | Deutsch | 2015 - Baake, Olaf
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Baake, Olaf:
Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten | Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS | Olaf Baake | Taschenbuch | Paperback | 128 S. | Deutsch | 2015 - Taschenbuch

2015

ISBN: 9783838115337

[ED: Taschenbuch], [PU: Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften AG Co. KG], Bereits 1989 wurden besonders außergewöhnliche Eigenschaften für ein ß-Kohlenstoffnitrid vorausgesagt, w… Mehr…

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Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten
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Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten - neues Buch

ISBN: 9783838115337

Bereits 1989 wurden besonders außergewöhnliche Eigenschaften für ein ß-Kohlenstoffnitrid vorausgesagt, was einen weltweiten Boom zur Herstellung und Charakterisierung solcher Materialien … Mehr…

Nr. A1010985570. Versandkosten:, , DE. (EUR 0.00)
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Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS - neues Buch

2015, ISBN: 3838115333

Kartoniert / Broschiert, mit Schutzumschlag 11, [PU:Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften AG Co. KG]

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten

Bereits 1989 wurden besonders außergewöhnliche Eigenschaften für ein ß-Kohlenstoffnitrid vorausgesagt, was einen weltweiten Boom zur Herstellung und Charakterisierung solcher Materialien zur Folge hatte. Später gerieten auch ternäre Systeme wie BCN und SiCN in den Fokus des Interesses. Der Vorteil solcher Systeme wurde darin gesehen, dass diese die Eigenschaften von nitridischen und carbidischen Keramiken vereinen bzw. verbessern können. Im Zuge weiterer Forschung wurde versucht, die Carbonitride durch verschiedene Syntheseverfahren als dünne Schichten abzuscheiden. Aus chemischer Sicht lange Zeit ungeklärt blieb die Frage nach den chemischen Bindungsverhältnissen dieser Dünnschichtsysteme. Ziel der hier dargestellten Untersuchungen war die Bestimmung der chemischen Bindungen in Dünnschichtsystemen aus BCN und SiCN. Zur Charakterisierung standen verschiedene BCN- und SiCN-Probenserien zur Verfügung, die mittels CVD-Prozessen aus verschiedenen Ausgangsstoffen und der Zugabe von weiteren Reaktions-/Inertgasen synthetisiert waren. Zur Bestimmung der chemischen Bindungen wurden Messungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS durchgeführt.

Detailangaben zum Buch - Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten


EAN (ISBN-13): 9783838115337
ISBN (ISBN-10): 3838115333
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 1989
Herausgeber: Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften AG Co. KG

Buch in der Datenbank seit 2008-07-04T22:03:55+02:00 (Vienna)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-03-19T06:26:28+01:00 (Vienna)
ISBN/EAN: 3838115333

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-8381-1533-3, 978-3-8381-1533-7
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: baak, baake, olaf
Titel des Buches: bindungen, bor, silizium, olaf, txrf, von, xps


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