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Applied Scanning Probe Methods V | Scanning Probe Microscopy Techniques | Bharat Bhushan (u. a.) | Buch | NanoScience and Technology | HC runder Rücken kaschiert | xlv | Englisch | 2006 - Bhushan, Bharat
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Bhushan, Bharat:

Applied Scanning Probe Methods V | Scanning Probe Microscopy Techniques | Bharat Bhushan (u. a.) | Buch | NanoScience and Technology | HC runder Rücken kaschiert | xlv | Englisch | 2006 - gebunden oder broschiert

2006, ISBN: 9783540373155

[ED: Gebunden], [PU: Springer-Verlag GmbH], The volumes V, VI and VII will examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These vo… Mehr…

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Applied Scanning Probe Methods V / Scanning Probe Microscopy Techniques / Bharat Bhushan (u. a.) / Buch / NanoScience and Technology / HC runder Rücken kaschiert / XLV / Englisch / 2006 - Bhushan, Bharat
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Applied Scanning Probe Methods V / Scanning Probe Microscopy Techniques / Bharat Bhushan (u. a.) / Buch / NanoScience and Technology / HC runder Rücken kaschiert / XLV / Englisch / 2006 - gebunden oder broschiert

2006, ISBN: 9783540373155

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Applied Scanning Probe Methods V | Scanning Probe Microscopy Techniques | Bharat Bhushan (u. a.) | Buch | NanoScience and Technology | HC runder Rücken kaschiert | XLV | Englisch | 2006 - gebunden oder broschiert

2006

ISBN: 9783540373155

[ED: Gebunden], [PU: Springer-Verlag GmbH], The volumes V, VI and VII will examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These vo… Mehr…

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Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques - Bhushan, Bharat (Herausgeber); Kawata, Satoshi (Herausgeber); Fuchs, Harald (Herausgeber)
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Bhushan, Bharat (Herausgeber); Kawata, Satoshi (Herausgeber); Fuchs, Harald (Herausgeber):
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques - gebunden oder broschiert

2006, ISBN: 3540373152

2007 Gebundene Ausgabe Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie, Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie, Nanotechnologie, Materialwissenschaft, Technische Anwendung … Mehr…

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Applied Scanning Probe Methods V - Taschenbuch

2007, ISBN: 9783540373155

*Applied Scanning Probe Methods V* - Scanning Probe Microscopy Techniques. Auflage 2007 / gebundene Ausgabe für 160.49 € / Aus dem Bereich: Bücher, Wissenschaft, Technik Medien > Bücher n… Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Applied Scanning Probe Methods V
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783540373155


The volumes V, VI and VII will examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. This is the first book summarizing the state-of-the-art of this technique. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective.

Detailangaben zum Buch - Applied Scanning Probe Methods V


EAN (ISBN-13): 9783540373155
ISBN (ISBN-10): 3540373152
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2006
Herausgeber: Springer Berlin Heidelberg
344 Seiten
Gewicht: 0,676 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2007-05-19T15:01:42+02:00 (Vienna)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-01-14T12:42:08+01:00 (Vienna)
ISBN/EAN: 9783540373155

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-37315-2, 978-3-540-37315-5
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: probe, bhushan, harald fuchs
Titel des Buches: microscopy techniques, applied scanning probe methods, scanning probe microscopy nanoscience, probe aufnahmen

Daten vom Verlag:

Autor/in: Bharat Bhushan; Harald Fuchs; Satoshi Kawata
Titel: NanoScience and Technology; Applied Scanning Probe Methods V - Scanning Probe Microscopy Techniques
Verlag: Springer; Springer Berlin
344 Seiten
Erscheinungsjahr: 2006-10-18
Berlin; Heidelberg; DE
Sprache: Englisch
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
Available
XLV, 344 p.

BB; Hardcover, Softcover / Technik/Allgemeines, Lexika; Elektronik; Verstehen; AFM; PES; REM; Raman spectroscopy; ceramics; elasticity; liquid; microscopy; modeling; polymer; spectroscopy; Microsystems and MEMS; Spectroscopy; Surface and Interface and Thin Film; Nanotechnology; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Polymers; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Nanotechnologie; Materialwissenschaft; Technische Anwendung von Polymeren und Verbundwerkstoffen; BC

Integrated Cantilevers and Atomic Force Microscopes.- Electrostatic Microscanner.- Low-Noise Methods for Optical Measurements of Cantilever Deflections.- Q-controlled Dynamic Force Microscopy in Air and Liquids.- High-Frequency Dynamic Force Microscopy.- Torsional Resonance Microscopy and Its Applications.- Modeling of Tip-Cantilever Dynamics in Atomic Force Microscopy.- Combined Scanning Probe Techniques for In-Situ Electrochemical Imaging at a Nanoscale.- New AFM Developments to Study Elasticity and Adhesion at the Nanoscale.- Near-Field Raman Spectroscopy and Imaging.
First book summarizing the state-of-the-art of this technique Real industrial applications included Includes supplementary material: sn.pub/extras
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