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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - neues Buch

2006, ISBN: 9783540372417

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings, eBooks, eBook Download (PDF), This is the proceedings of the 11th Internatio… Mehr…

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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - neues Buch

2006, ISBN: 9783540372417

This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Patte… Mehr…

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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings - Bernhard Dischler
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings - neues Buch

2006

ISBN: 9783540372417

; PDF; Computing > Computer science > Artificial intelligence > Pattern recognition, Springer Berlin Heidelberg

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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - neues Buch

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Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings, eBook Download (PDF), eBooks, [PU: Springer Berlin Heidelberg]

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783540372417

Detailangaben zum Buch - Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition


EAN (ISBN-13): 9783540372417
Erscheinungsjahr: 2006
Herausgeber: Springer Berlin Heidelberg

Buch in der Datenbank seit 2016-07-30T14:26:44+02:00 (Vienna)
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ISBN/EAN: 9783540372417

ISBN - alternative Schreibweisen:
978-3-540-37241-7
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: fabio, ridder, yan, james, fred
Titel des Buches: the pattern, statistical, structural pattern recognition

Daten vom Verlag:

Autor/in: Dit-Yan Yeung; James T. Kwok; Ana Fred; Fabio Roli; Dick de Ridder
Titel: Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics; Lecture Notes in Computer Science; Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Verlag: Springer; Springer Berlin
939 Seiten
Erscheinungsjahr: 2006-08-09
Berlin; Heidelberg; DE
Sprache: Englisch
96,29 € (DE)
99,00 € (AT)
118,00 CHF (CH)
Available
XXI, 939 p.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Informatik, EDV/Anwendungs-Software; Mustererkennung; Verstehen; Bayesian network; Monte Carlo Method; bayesian networks; biometrics; clustering; document analysis; feature extraction; graphical pattern recognition; image analysis; modeling; object recognition; pattern recognition; robot; statistic; statistics; C; Automated Pattern Recognition; Discrete Mathematics in Computer Science; Artificial Intelligence; Computer Graphics; Computer Vision; Computer Science; Mathematik für Informatiker; Diskrete Mathematik; Künstliche Intelligenz; Grafikprogrammierung; Maschinelles Sehen, Bildverstehen; BC

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